CrystalDiffract 7.2.6
CrystalDiffract - 粉末衍射模拟与晶体结构分析软件
CrystalDiffract 粉末衍射模拟与晶体结构分析软件
CrystalDiffract 面向粉末衍射模拟和实验衍射数据分析,可在同一工作环境中设置仪器与样品参数、比较模拟和观测图样、筛查候选物相,并开展单相或多相 Rietveld 结构精修。
X 射线、中子与电子粉末衍射
模拟、实验数据处理、相鉴定与结构精修
从结构与实验数据到可复用的粉末衍射结果
软件将结构输入、衍射条件设置、图样处理和分析结果组织在一个可交互的工作流程中,便于围绕样品参数和实验条件开展多轮比较。
导入结构与实验数据
读取 CIF、CMTX、CMDX 等结构文件,以及 XY、CSV、XRDML 和 ASC 等观测数据。
设置仪器和样品参数
配置波长、探测器条件、峰形、展宽、晶格参数、占位和择优取向等模拟条件。
比较、鉴定与精修
处理观测图样,比较模拟结果,筛查候选相,并按项目需要开展 Rietveld 精修。
输出图形与数据
保存分析文档,并导出衍射轮廓、反射列表、结构因子、结构文件和图形结果。
覆盖模拟、实验数据处理与结构精修
多种粉末衍射模拟
恒定波长 X 射线、中子和电子衍射可按 2θ 显示;能量色散 X 射线使用能量,飞行时间中子使用飞行时间。各模式还可按 d 间距、1/d 或 Q 空间查看结果。
实时仪器与样品控制
可调整波长、峰形、仪器展宽、晶格参数、位点占位、位移参数、粒径与应变展宽,并观察图样变化。
实验数据处理
支持强度缩放和偏移、数据平滑、自动背景、可编辑背景以及图样相加与相减,便于整理观测数据并与模拟结果比较。
相鉴定与峰分析
内置超过 500,000 条衍射记录,可依据强峰位置和相对强度筛查候选相;峰查找、反射列表和屏幕测量工具可辅助检查匹配关系。
多相 Rietveld 精修
支持单相和多相精修,可选择结构、仪器、背景和峰形等参数,并通过拟合轨迹、结果误差和参数相关矩阵检查精修过程。
多相混合物模拟
通过拖放方式将多个图样组成模拟混合物,实时调整各组分比例,并可锁定混合物总量或输入明确的组分数值。
关键分析界面与结果展示
以下图示覆盖结构精修、物相筛查、参数变化模拟、混合物编辑和实验图样比较等典型任务。
结构联动与结果输出
与 CrystalMaker 11 联动
CrystalDiffract 可读取 CrystalMaker 文档,并通过独立软件之间的 Live Powder Diffraction / Live Intensity 工作流,在编辑结构时同步更新对应的粉末衍射图样。
数据与图形输出
可导出反射列表、高分辨率 XY 轮廓、结构因子、计算轮廓以及 CIF、CMTX 结构数据;图形可复制、拖放或保存为目标平台支持的矢量和像素格式。
适用任务
粉末衍射教学与模拟
比较不同辐射源、峰形、晶格参数、占位和样品条件对模拟图样的影响。
实验数据对比与表征
导入观测数据并完成缩放、平滑、背景处理和屏幕测量,再与模拟图样进行对比。
未知相候选筛查
利用峰查找与内置衍射记录比较主要峰位和相对强度,辅助缩小候选物相范围。
多相结构精修
围绕一个或多个起始结构开展 Rietveld 精修,并结合拟合指标、误差和相关矩阵检查结果;对于多相样品,可估算各相质量分数。
平台支持
Windows
支持 64 位 Windows 10 和 Windows 11,当前版本需要 .NET 8 或更高版本。安装和许可验证前建议确认目标计算机的系统与运行环境。
macOS
支持运行 macOS 11 或更高版本的 Apple Silicon 与 Intel Mac。不同系统版本的安装包与功能更新情况需结合实际部署环境确认。
采购与实施咨询
可结合粉末衍射类型、实验数据格式、目标平台、使用人数和分析任务,沟通许可范围、安装环境及基础使用需求。CrystalMaker 联动、多用户部署和教学使用等场景建议在选型时一并说明。
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