JADE - X射线衍射图谱分析软件
JADE® - X射线衍射图谱分析软件
MDI JADE 面向 X 射线粉末衍射（XRD）数据处理与分析，可用于物相识别、图谱拟合、定量分析、结构模拟与可视化。软件支持读取各厂商的 XRD 图谱文件，便于实验室在统一的软件环境中处理来自不同设备的数据。
从衍射图谱到物相与结构分析
围绕 XRD 数据组织分析流程
JADE 将图谱处理、物相检索、全谱拟合和 Rietveld 精修等工具组织在同一分析环境中。可依据实验任务选择相应版本与功能配置，从日常图谱处理逐步扩展到更深入的定量与结构分析。
对于需要处理多组样品或开展团队协作的实验室，还可结合批处理、聚类分析和共享授权等需求选择配置。
核心分析功能
物相检索与匹配
通过检索与匹配（Search/Match，S/M）识别样品中的物相。JADE Pro 支持基于全谱的检索匹配，可在检索中结合化学信息与晶胞数据，并用于少量相和痕量相的识别。
全谱拟合与 Rietveld 精修
全谱拟合（Whole Pattern Fitting，WPF）与 Rietveld 精修可用于物相质量百分比定量和少量相分析。JADE Pro 支持不限物相数的 WPF-Rietveld 精修，并提供原子参数的结构精修功能。
峰形拟合与尺寸、应变分析
JADE Pro 提供峰形拟合、参考强度比（RIR）定量以及晶粒尺寸与微观应变分析，并支持批量峰形拟合；尺寸与应变分析工具包括 Warren-Averbach 方法。
非晶含量与结构约束
JADE Pro 支持使用或不使用已知质量百分比的内标进行非晶含量分析，并提供原子占位与键长约束，用于相应的结构精修任务。
图谱指标化
JADE Pro 提供覆盖所有晶系的图谱指标化工具，支持粉末衍射图谱的晶胞分析工作。
聚类与批处理
聚类工具可对大量相似图谱进行整理，辅助查找异常图谱与数据中的模式。JADE Pro 还支持 WPF 和 Rietveld 批处理，用于组织多组数据的拟合与精修任务。
图谱模拟与结构可视化
从晶体结构生成模拟图谱
可根据晶体结构模拟粉末衍射图谱，并建立自定义数据库。三维结构显示与动态观察功能，有助于研究人员查看和理解正在分析的材料结构。
一键分析与日常工作流程
One Click Analysis™ 一键分析可自动执行相应分析步骤。在适用情况下，载入图谱后即可开展自动化处理，也可将结果作为进一步深入分析的起点，配合后续检查与精修完成研究任务。
多语言界面与团队协作
中文、英文与日文
JADE 提供中文、英文和日文界面，可在订购时根据使用需求确认语言界面选择。
按并发用户共享席位
JADE Pro 提供浮动网络授权，可根据团队并发使用人数确认席位配置。
JADE Toolkit 与 PDF-5+ 配套选择
JADE Toolkit 包含多种为 JADE 设计的实用工具，可结合实验室工作内容了解其具体用途与配置。
PDF-5+ 是用于物相识别与定量分析的衍射数据库产品，可与 JADE Pro 组合采购。它包含粉末与单晶数据，覆盖晶态、半晶态和非晶固态材料，并提供用于全谱分析的数字图谱及数据挖掘功能。JADE 软件与 PDF-5+ 数据库的授权内容和使用期限需分别确认。
正版采购与配置咨询
可咨询 JADE 正版授权采购、软件报价与版本选型。选型时可结合日常图谱处理、物相识别、定量分析、结构精修、批处理及团队并发使用人数，确认软件授权及数据库配置；具体交付内容与服务范围按采购约定执行。
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