FEFF - 谱学多重散射计算软件
FEFF 用于原子团簇的 X 射线谱学从头算多重散射计算,可模拟 X 射线吸收精细结构、近边结构以及多类相关谱学结果,并输出后续谱学分析常用的散射振幅和相位信息。
FEFF 面向材料、物理、化学和同步辐射谱学研究中的结构与电子态分析。软件通过多重散射方法,对原子团簇中的 X 射线吸收与相关谱学响应进行计算,可用于解释实验谱图、生成理论谱和提供谱学拟合所需参数。
软件资料中包含有限温度扩展和 CORVUS 工作流联动说明;需要注意的是,部分图形界面支持情况会随版本而变化,代码和安装程序访问通常需要完成注册后获取相应访问方式。
核心计算能力
X 射线吸收谱计算
可进行 X 射线吸收精细结构(XAFS)和近边结构(XANES)相关计算,用于分析局域结构、配位环境和吸收边附近谱学特征。
多重散射计算
围绕原子团簇开展从头算多重散射计算,可输出散射振幅、散射相位和相关谱学参数,便于与分析软件或实验谱图结合。
多类谱学结果
FEFF 系列资料中包含电子能量损失谱、非共振非弹性 X 射线散射、X 射线发射谱、圆二色性和自旋相关吸收谱等计算能力。
电子结构相关输出
可结合局域态密度、费米能级、核心空穴效应、非弹性损失和局域场效应等信息,辅助理解材料中的电子结构与谱学响应。
有限温度扩展
可用于考虑温度相关效应对谱学计算结果的影响,适合需要关注热振动和温度条件的谱学计算场景。
工作流联动
可与 CORVUS 工作流联动,便于将谱学计算纳入自动化或材料谱学计算流程中。
典型计算流程
根据实验样品或晶体结构准备原子团簇、吸收原子和局域配位环境。
选择吸收边、散射路径、势函数、温度相关项和所需谱学输出。
运行从头算多重散射计算,生成理论谱、散射参数和相关物性结果。
将输出用于 X 射线吸收谱解释、实验谱拟合、结构判断和材料性质研究。
功能补充说明
电子能量损失谱
资料中包含电子能量损失谱和非共振非弹性 X 射线散射等计算能力,适合扩展到多类谱学分析任务。
谱学修正项
可结合德拜-沃勒因子、非弹性损失、核心空穴相互作用和局域场效应等因素,改善理论谱与实验谱之间的对应。
晶体体系处理
资料中提到可通过格林函数相关方法处理晶体体系,适合需要考虑周期结构和局域环境的材料谱学研究。
注册与引用
获取代码和安装程序通常需要注册;若在发表工作中使用软件或结果,应按项目要求引用相应参考文献。
适用场景
同步辐射谱学研究
用于 X 射线吸收谱和近边结构的理论计算、实验谱解释和局域结构分析。
材料局域结构分析
适合研究金属、氧化物、催化材料、能源材料和复杂配位环境中的局域结构信息。
电子结构与谱学响应
可用于分析态密度、核心空穴、非弹性损失、温度效应和散射过程对谱图的影响。
理论谱与实验谱对照
可生成理论谱和散射参数,辅助实验数据拟合、结构模型筛选和谱学机理讨论。
服务支持
可提供 FEFF 正版授权与获取咨询、授权代理服务、软件报价咨询、版本选型建议、安装部署协助、授权续费和售后技术支持服务。
采购说明
产品价格会因购买数量、授权方式、用户类型、所选规格及活动情况等因素发生变化。如需报价,请以双方确认的实际成交价格为准。
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